單片機(jī)系統(tǒng)的硬件調(diào)試--麗晶微定時(shí)IC、定時(shí)芯片

在完成軟件編輯后，需要初步進(jìn)行功能檢測(cè)，搭建的硬件電路有沒(méi)有問(wèn)題，需要進(jìn)行調(diào)試，主要有以下
幾種方法:
           《1》靜態(tài)測(cè)試：第一步在樣機(jī)加電之前，首先用萬(wàn)用表等工具，根據(jù)硬件電氣原理圖和裝配圖仔細(xì)檢查
樣機(jī)線路的正確性，并核對(duì)元器件的型號(hào)、規(guī)格和安裝是否符合要求。應(yīng)特別注意電源的走線，防止電源之
間的短路和極性錯(cuò)誤，并重點(diǎn)檢查擴(kuò)展系統(tǒng)總線（地址總線、數(shù)據(jù)總線和控制總線）是否存在相互間的短路
或與其他信號(hào)線的短路。 第二步加電話后檢查各插件上引腳的電位，仔細(xì)測(cè)量各點(diǎn)電位是否正常，尤其應(yīng)注
意單片機(jī)插座上的各點(diǎn)電位，若有高壓，聯(lián)機(jī)時(shí)將會(huì)損壞仿真器。第三步在不加電的情況下，除單片機(jī)以外，
插上所有的元器件，用仿真插頭將樣機(jī)的單片機(jī)插座和SICE的仿真接口相連,這樣便為聯(lián)機(jī)調(diào)試做好了準(zhǔn)備。

《2》聯(lián)SICE調(diào)試:在靜態(tài)測(cè)試中,只對(duì)樣機(jī)硬件進(jìn)行初步測(cè)試,只排除一些明顯的硬件故障。目標(biāo)樣機(jī)中的
硬件故障主要靠聯(lián)機(jī)調(diào)試來(lái)排除的。靜態(tài)測(cè)試完成后分別打開樣機(jī)和仿真器電源，就可開始聯(lián)機(jī)調(diào)試。第一
步測(cè)試擴(kuò)展RAM存儲(chǔ)器。第二步測(cè)試I/O口和I/O設(shè)備。

《3》測(cè)試程序存儲(chǔ)器。輸入MAP0命令,使樣機(jī)中的EPROM作為目標(biāo)系統(tǒng)的程序存儲(chǔ)器,再用命令DC或DI讀出
EPROM中的內(nèi)容,若讀出內(nèi)容和EPROM的內(nèi)容一致則無(wú)故障,否則有錯(cuò)誤。一般在目標(biāo)系統(tǒng)中只有一片EPROM,若
有故障很容易定。

《4》測(cè)試晶振和復(fù)位電路。用選擇開關(guān)，使目標(biāo)系統(tǒng)中晶振電路作為系統(tǒng)晶振電路，此時(shí)系統(tǒng)若正常工作
則晶振電路無(wú)故障，否則檢查一下晶振電路便可查出故障所在。按下樣機(jī)復(fù)位開關(guān)或樣機(jī)加電應(yīng)應(yīng)使系統(tǒng)復(fù)位，
否則復(fù)位電路也有錯(cuò)誤。

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